半導體測試闆 > probe card

              産品簡介

              探針卡在CP測試中用于連接測試機和Die上的Pad,通常作爲Loadboard的物理接口,在某些情況下ProbeCard通過插座或者其它接口電路附加 到Loadboard上。應用:晶元切割前,透過pc可以測試晶圓品質,避免不良産品産生封裝成本。

              應用流程

              關鍵能力